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    在除尘技术中如何测定尘粒的粒径分布?

    (1)显微镜法常在放大率450〜600倍的显微镜下对尘粒 讥行逐个测量,从而取得定向径、定向等面积径、投影面积径等。在测量时整个视野范围内的尘粒数不得超过50〜 70个,避免粒子间的
    (1)显微镜法常在放大率450〜600倍的显微镜下对尘粒 讥行逐个测量,从而取得定向径、定向等面积径、投影面积径等。在测量时整个视野范围内的尘粒数不得超过50〜 70个,避免粒子间的重叠,每次至少测量200个以上。光学显 微镜可以测定微米级的粒径,电子显微镜可以测定纳米级的 粒径。
     
    (2)    筛分法取25〜200g尘样(一般取100g作为标准), 通过一套筛子进行筛分,按不同筛孔上的残留量计算出不同粒径 范围的颗粒质量占总质量的百分数。我国采用泰勒标准筛,孔目40fxm。筛分法可用手工和振筛机筛分,任一种筛分都要求 每分钟通过每只筛子的尘量不超过0. 05g或筛上尘量(未通过筛 孔,留在筛上的粉尘量)的0.1%。
     
    (3)    细孔通过法常用库尔特(Coulter)计数器测量,它 使尘粒在电解介质中通过孔口,由于电阻的变化而引起电压的波 动,电压波动值越大,则尘粒的体积越大。此法测得的是等体积 径,测得的范围为0. 6〜50(Vm。此法需要的试样少(2mg),分 析快,只需几十秒钟。
     
    (4)    沉降法制订此法的依据是不同大小颗粒在液体介质中 的沉降速率各不相同这一原理,它是气体除尘试验研究中应用广泛的方法。
     
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